【课程目标】

   帮助理解测量系统的统计特性，认识测量系统对过程控制中数据收集的影响。使学员学会偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性分析的实践经验，具备开展测量系统分析和改进的能力。

【课程收益】

• 定义测量系统、理解测量系统变差及其来源；
• 确定测量系统分析的范围、资源、人员需求，制订分析计划；
• 具备基本的运算能力，以评价测量系统存在的偏倚、稳定性、线性、重复性、再现性、准确度和精确度；
• 通过测量系统分析，提高选用、维护和改进测量系统有效性的能力；
• 满足ISO/TS16949和MSA手册等的要求

【参加对象】

  直接负责数据收集、控制图构筑和监控、以及对产品和过程特性的测量作统计分析的人员。

【课时】1天（9:00-16:00，共6H）

【培训大纲】

第一章 测量系统概述
  1. 测量的定义；
  2. 测量系统的定义；
  3. 理想的测量系统；
  4. 测量系统的变差来源；（Pismoea模型）
  5. 测量系统误差的影响（对产品检验、对过程控制）；
  6. 测量系统分析的概念；
第二章 测量系统的几个基本特性
  1. 测量系统误差（准确度和精确度）的概念；
  2. 测量系统的几个基本特性（分辨力、偏倚、线性、稳定性、重复性、再现性）；
  3. 测量不确定度的概念；
第三章 测量系统的策划和测量系统分析计划
  1. 测量系统的策划（APQP、FMEA、测量计划、量具的配备、量具的设计、采购或制造、测量系统分析计划、测量系统分析）
  2. TS等标准对MSA的要求；
第四章 计量型测量系统的分析方法和判断准则
  1. 偏倚的分析方法与判断准则；
  2. 线性的分析方法与判断准则；
  3. 稳定性的分析方法与判断准则；
  4. GRR的分析方法与判断准则；（极差法、均值极差法、方差分析）
 第五章 计数型测量系统的分析方法和判断准则
  1. 计数型测量系统的小样法简介
  2. 计数型测量系统的风险分析法；（Kappa）
  3. 计数型测量系统的信号探测法；
  4. 计数型测量系统的解析法；
第六章 破坏型测量系统的分析方法和判断准则

讨论及回答
1. 练习一：测量系统理解练习
2. 练习二：测量系统分析计划练习
3. 练习三：偏倚分析练习
4. 练习四：GR&R练习
5. 练习五：Kappa值计算练习
6. 练习六：风险分析法练习